장비 상세보기

장비기본정보

장비명
주사전자현미경Ⅰ( SEM Ⅰ) (Scaning Electron Microscope Ⅰ)
모델명
VEGA3
제작사(국가)
체코, Tescan
취득일
2013.02.20
장비설명
-원리 : 전자빔을 시료표면에 주사하여 방출되는 2차전자의 신호를 검출하여 이미지를 기록하는 장치.
-응용분야 : 금속, 무기재료, 반도체, 섬유, 세라믹, 고분자 물질 등의 미세조직 관찰 및 분석-미세입자의 크기 및 형태 관찰
장비구성

성능
(SEM)
-Resolution : 2.0nm at 30kv
-Accelerating Voltage : 200V~30kv
-Image : SEI, BEI
-Filament type : W (EDS)
-Detectable Element : B(5)~U(92)
-Detection range : 120eV ~ 20keV -Resolution : 139eV
주의사항

본 장비는 담당 연구원에게 직접이용 교육을 이수받은 이수자와 직접이용 확인서를 제출하신 분들만 이용이 가능합니다.

장비 교육에 관한 문의는 담당 연구원(내선 3039)로 문의하여 주시기 바랍니다.

* 분석가능시간 - 평일(월~금) 오전09:30-17:30
ex) 09:30~10:30 (1시간), 13:30-15:30 (2시간)

* 예약 시각 준수. 예약 시각부터 요금 부과

* 직접사용만 가능한 장비 입니다.

* 당일예약불가

장비이용안내

사용방법
직접사용
사용료유형
30분당
이용료
사용료: 30,000원
전처리: 15,000원/회
EDS: 5,000원/회
설치형태
설치장소
206호
(주사전자현미경실)
장비상태
정상
담당자
김보경
연락처
029707256
팩스
사용방법
온라인
 

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