장비 상세보기

장비기본정보

장비명
전계방사형주사전자현미경(FE,SEM) (Field Emission Scanning Electron Microscope)
모델명
JSM-6700F
제작사(국가)
일본, JEOL Ltd.
취득일
2005.07.27
장비설명
-원리 : Field Emission(FE)에서 가속된 전자빔을 주사하여 시료표면에서 발생하는 2차전자의 신호를 검출하여 이미지를 기록하는 장치로서 일반 주사 현미경보다 고분해능,고배율로 분석이 가능하고, 에너지분산분석기(EDS)를 부착하여 시료의 전체적인 정성, 정량분석 및 구성원소의 분포확인이 가능하다. -응용분야 :금속, 무기재료, 반도체, 섬유, 세라믹, 고분자 물질 등 광범위 시료의 미세 조직 관찰 에너지분산분석기(EDS)를 이용한 시료의 정성, 정량분석 및 구성원소의 분포 확인
장비구성

성능
(FE-SEM)
-Accelerating Voltage : 0.5 ~ 30kV
-Magnification : 25 ~ 100,000
-Resolution : 1.0㎚(15kV), 2.2㎚(1kV)
-Image : SEI, BEI
(EDS)
-Detectable element : B(5) ~ U(92)
-Detection range : 120eV ~ 20keV
-Resolution : 139eV
주의사항

본 장비는 담당 연구원에게 직접이용 교육을 이수받은 이수자와 직접이용 확인서를 제출하신 분들만 이용이 가능합니다.

장비 교육에 관한 문의는 담당 연구원(내선 3039)로 문의하여 주시기 바랍니다.

* 분석가능시간 - 평일(월~금) 오전09:30-17:30
ex) 09:30~10:30 (1시간), 13:30-15:30 (2시간)

* 예약 시각 준수. 예약 시각부터 요금 부과

* 직접사용만 가능한 장비 입니다.

* 당일예약불가

장비이용안내

사용방법
직접사용
사용료유형
30분당
이용료
사용료: 30,000원
전처리: 15,000원/회
EDS: 5,000원/회
설치형태
설치장소
206호
(주사전자현미경실)
장비상태
정상
담당자
김보경
연락처
029707256
팩스
사용방법
온라인
 

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